Transmissionselektronenmikroskop TEM FEI Tecnai G2 F20 TMP

Facility/Equipment: Research Instrumentation

Details

Description

Das TEM im LNQE hat eine Beschleunigungsspannung von 200 kV und als Elektronenemitter eine Feldeffektkathode. Wichtigste Paramater sind: Gerätetyp: TEM Tecnai G2 F20 TMP von Fa. FEI, 200 kV Feldeffekt FEG, OBJECTIVE LENS TYPES: TWIN, Ölfreies Vakuum, TEM point resolution: 0,27 nm, Information limit: 0,14 nm (gemessen), STEM resolution: 0,24 nm, 1 Hellfeld- und 2 Dunkelfeld-Detektoren +1 HAADF-Detektor, Tomografie +- 70°(evtl. bis zu +- 80°), EDX-Detektor (EDAX Octane T Optima 60 SDD System). Mit diesem TEM sind alle klassischen Kontrastverfahren möglich: Hellfeld und Dunkelfeld, Beugungskontrast (einschließlich Weak-beam), parallele Beleuchtung bei alle Vergrößerungen (wichtig insbesondere bei der Untersuchung kristalliner Proben), TEM und STEM (scanning TEM). Dabei sind große Kippwinkel möglich. Eine Besonderheit des TEM im LNQE ist die Möglichkeit der Tomografie.<br/><br/>Für die Probenpräparation sind ein Ionen-Poliersystem Gatan PIPS 691, Muldenschleifgerät Gatan Dimpler Grinder 656, Lichtmikroskope, Abzug und laborübliche Kleingeräte vorhanden.

Access to facility/equipment

NameFritz Schulze-Wischeler
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