Rasterkraftmikroskop (Nanosurf CoreAFM). Leicht zu bedienendes AFM für die Forschung. Messmodi: Static Force Microscopy, Lateral Force Microscopy, Standard Spectroscopy, Standard Lithography, Dynamic Force Microscopy, Phase Contrast Microscopy, Force Modulation Mode, MFM, Liquid Imaging, „QuickPrescan“, bis zu 8mal schnellere und spitzenschonende Bildvorschau, Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoresponse Force Microscopy (PFM)