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Institut für Grundlagen der Elektrotechnik und Messtechnik

Organisation: Institut/Seminar

Adressentyp: Besucheradresse.
Appelstraße 9A
30167
Hannover
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Publikationen

  1. 2003
  2. Veröffentlicht

    BiCG-FFT method for shielding effectiveness of PEC enclosures with many apertures

    Paoletti, U., Keller, U., Garbe, H. & John, W., 27 Nov. 2003, in: Electronics letters. 39, 24, S. 1711-1712 2 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  3. Veröffentlicht

    Impact of near field dispersion on time domain susceptibility tests

    Sabath, F. & Garbe, H., 5 Mai 2003, in: Advances in Radio Science. 1, S. 43-47 5 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  4. Veröffentlicht

    Influence of Operation- and Program-States on the Breakdown Effects of Electronics by Impact of EMP and UWB

    Camp, M. & Garbe, H., 2003, 2003 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC ´03. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., S. 1032-1035 4 S. 1429090. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 2).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  5. 2002
  6. Veröffentlicht

    Calculable Field Generation Using TEM Cells Applied to the Calibration of a Novel E-Field Probe

    Kärst, J. P., Groh, C. & Garbe, H., Feb. 2002, in: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 44, 1, S. 59-71 13 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungPeer-Review

  7. Veröffentlicht

    Critical review of converting spectral data into prospective bit error rates

    Knobloch, A. & Garbe, H., 2002, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 173-178 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  8. Veröffentlicht

    Influence of the technology on the destruction effects of semiconducters by impact of EMP and UWB pulses

    Camp, M., Garbe, H. & Nitsch, D., 2002, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 87-92 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  9. 2001
  10. Veröffentlicht

    A voltage controlled emission model of electromagnetic emission of IC for system analysis

    Kralicek, P., John, W., De Smedt, R., Vervoort, K. & Garbe, H., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 1197-1202 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  11. Veröffentlicht

    Reduction of MoM matrix dimension by transmission line and circuit theory

    Keller, U., John, W. & Garbe, H., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 605-610 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  12. Veröffentlicht

    UWB and EMP susceptibility of modern electronics

    Camp, M., Garbe, H. & Nitsch, D., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 1015-1020 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  13. 2000
  14. Veröffentlicht

    TEM waveguides: An evaluation of their applicability for EMI testing

    Garbe, H., Sept. 2000, Compliance Engineering, 17, 7, S. 7 7 S.

    Publikation: Beitrag in nicht-wissenschaftlicher/populärwissenschaftlicher Zeitschrift/ZeitungBeitrag in Publikumszeitung/-zeitschriftTransfer

  15. Veröffentlicht

    Improvement of GTEM to OATS correlation

    Heidemann, M. & Garbe, H., 2000, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 909-914 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

  16. 1999
  17. Veröffentlicht

    Characterization of loaded TEM-waveguides using time-domain reflectometry

    Kärst, J. P. & Garbe, H., 1999, IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., S. 127-132 6 S. 812881. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 1).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  18. Veröffentlicht

    Higher order mode behavior in loaded and unloaded TEM cells

    Groh, C., Garbe, H. & Koch, M., 1999, IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., S. 225-230 6 S. 812899. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 1).

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/KonferenzbandAufsatz in KonferenzbandForschungPeer-Review

  19. 1998
  20. Veröffentlicht

    Shielded or unshielded twisted-pair for high speed data transmission?

    Knobloch, A., Garbe, H. & Kaerst, J. P., 1998, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 112-117 6 S.

    Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzaufsatz in FachzeitschriftForschungPeer-Review

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