Publikationen
- 2003
- Veröffentlicht
BiCG-FFT method for shielding effectiveness of PEC enclosures with many apertures
Paoletti, U., Keller, U., Garbe, H. & John, W., 27 Nov. 2003, in: Electronics letters. 39, 24, S. 1711-1712 2 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Impact of near field dispersion on time domain susceptibility tests
Sabath, F. & Garbe, H., 5 Mai 2003, in: Advances in Radio Science. 1, S. 43-47 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Influence of Operation- and Program-States on the Breakdown Effects of Electronics by Impact of EMP and UWB
Camp, M. & Garbe, H., 2003, 2003 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC ´03. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., S. 1032-1035 4 S. 1429090. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 2).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 2002
- Veröffentlicht
Calculable Field Generation Using TEM Cells Applied to the Calibration of a Novel E-Field Probe
Kärst, J. P., Groh, C. & Garbe, H., Feb. 2002, in: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 44, 1, S. 59-71 13 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Critical review of converting spectral data into prospective bit error rates
Knobloch, A. & Garbe, H., 2002, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 173-178 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Influence of the technology on the destruction effects of semiconducters by impact of EMP and UWB pulses
Camp, M., Garbe, H. & Nitsch, D., 2002, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 87-92 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- 2001
- Veröffentlicht
A voltage controlled emission model of electromagnetic emission of IC for system analysis
Kralicek, P., John, W., De Smedt, R., Vervoort, K. & Garbe, H., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 1197-1202 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Reduction of MoM matrix dimension by transmission line and circuit theory
Keller, U., John, W. & Garbe, H., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 605-610 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
UWB and EMP susceptibility of modern electronics
Camp, M., Garbe, H. & Nitsch, D., 2001, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 1015-1020 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- 2000
- Veröffentlicht
TEM waveguides: An evaluation of their applicability for EMI testing
Garbe, H., Sept. 2000, Compliance Engineering, 17, 7, S. 7 7 S.Publikation: Beitrag in nicht-wissenschaftlicher/populärwissenschaftlicher Zeitschrift/Zeitung › Beitrag in Publikumszeitung/-zeitschrift › Transfer
- Veröffentlicht
Improvement of GTEM to OATS correlation
Heidemann, M. & Garbe, H., 2000, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 2, S. 909-914 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review
- 1999
- Veröffentlicht
Characterization of loaded TEM-waveguides using time-domain reflectometry
Kärst, J. P. & Garbe, H., 1999, IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., S. 127-132 6 S. 812881. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 1).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- Veröffentlicht
Higher order mode behavior in loaded and unloaded TEM cells
Groh, C., Garbe, H. & Koch, M., 1999, IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., S. 225-230 6 S. 812899. (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility; Band 1).Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Sammelwerk/Konferenzband › Aufsatz in Konferenzband › Forschung › Peer-Review
- 1998
- Veröffentlicht
Shielded or unshielded twisted-pair for high speed data transmission?
Knobloch, A., Garbe, H. & Kaerst, J. P., 1998, in: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility. 1, S. 112-117 6 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzaufsatz in Fachzeitschrift › Forschung › Peer-Review