Details
Beschreibung
Spektrales Ellipsometer für runde Wafer bis 200 mm Durchmesser (auch Solar), 250-800 nm Wellenlänge, Stage für automatisiertes Mapping der Oberfläche (SENTECH SE 800)
Kontaktinformationen
| Name | Oliver Kerker |
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| Zur Ausleihe/Buchung verfügbar | Bitte kontaktieren Sie die Ansprechperson |
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