Rasterelekronenmikroskop JEOL JSM-7610F field emission gun scanning electron microscope with Bruker EDS system

Ausstattung/Einrichtung: Gerät

Details

Beschreibung

Rasterelektronenmikroskop mit einer FEG-Quelle (Field emission gun) sowie einen leistungsfähigen EDX-Detektor. Qualitative chemische Analysen von Phasen mit hoher Nachweisgrenze: Ortsauflösung im nm-Bereich (FEG-Quelle), EDX-Mapping von natürlichen Proben (Fläche von ca. 3 x 5 cm), Partikel-Analyse Software zur Identifizierung von Mineral-Phasen und Bestimmung ihrer Größen. Charakterisierung von sehr kleinen (< 10-20 µm) experimentellen Phasen.