Details
Beschreibung
Rasterelektronenmikroskop mit einer FEG-Quelle (Field emission gun) sowie einen leistungsfähigen EDX-Detektor. Qualitative chemische Analysen von Phasen mit hoher Nachweisgrenze: Ortsauflösung im nm-Bereich (FEG-Quelle), EDX-Mapping von natürlichen Proben (Fläche von ca. 3 x 5 cm), Partikel-Analyse Software zur Identifizierung von Mineral-Phasen und Bestimmung ihrer Größen. Charakterisierung von sehr kleinen (< 10-20 µm) experimentellen Phasen.
Kontaktinformationen
Name | Renat Almeev |
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