FE-SEM Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (JEOL JSM-6700F)

Ausstattung/Einrichtung: Gerät

Details

Beschreibung

mit energie-dispersivem Röntgenspektrometer (Oxford Instruments INCA300), Sekundärelektronenkontrast (SE), In-Lens-SE, Rückstreuelektronenkontrast (BSE)

Kontaktinformationen

NameArmin Feldhoff
E-Mail-Adressen
Telefon05117622940
Zur Ausleihe/Buchung verfügbarBitte kontaktieren Sie die Ansprechperson

Forschungsservice (CoreNAT - Naturwissenschaftliche Fakultät)