Elektronenstrahlmikrosonde JEOL FEG-Mikrosonde JXA-iHP200F

Ausstattung/Einrichtung: Gerät

Details

Beschreibung

Elementkonzentrationen können in allen festen Materialien analysiert werden, sofern diese vakuumstabil sind und sich unter dem Einfluss des Elektronenbeschusses nicht verändern. Oberflächenpolitur ist nötig,  nicht leitende Materialien müssen mit einer 15-20 nm dicken Kohlenstoffschicht bedampft werden. quantitativen Analyse von Elementen in Mineralien und Festkörpern. Elemente ab Na können in festen Materialien analysiert werden.  Auflösung: ca. 1 Mikrometer